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技術(shù)文章

TECHNICAL ARTICLES

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  • 20247-17
    應用分享 | TOF-SIMS在光電器件研究中的應用

    引言光伏發(fā)電新能源技術(shù)對于實(shí)現碳中和目標具有重要意義。近年來(lái),基于有機-無(wú)機雜化鈣鈦礦的光電太陽(yáng)能電池器件取得了飛速的發(fā)展,目前報道的光電轉化效率已接近26%。鹵化物鈣鈦礦材料具有無(wú)限的組分調整空間,因此表現出優(yōu)異的可調控的光電性質(zhì)。然而,由于多組分的引入,鈣鈦礦材料生長(cháng)過(guò)程中會(huì )出現多相競爭問(wèn)題,導致薄膜初始組分分布不均一,這嚴重降低了器件效率和壽命。圖1.鈣鈦礦晶體結構TOF-SIMS應用成果由于目前用于高性能太陽(yáng)能電池的混合鹵化物過(guò)氧化物中的陽(yáng)離子和陰離子的混合物經(jīng)常發(fā)生...

  • 20247-17
    應用分享 | HAXPES∣多層結構器件界面的無(wú)損深度分析案例

    XPS的探測深度在10nm以?xún)?,然而對于?shí)際的器件,研究對象往往會(huì )超過(guò)10nm的信息深度,特別是在一些電氣設備中,有源層總是被掩埋在較厚的電極之下。因此,利用XPS分析此類(lèi)樣品,需要結合離子刻蝕技術(shù)。顯然,離子刻蝕存在擇優(yōu)濺射效應,特別是對于金屬氧化物,會(huì )破壞樣品原始的化學(xué)態(tài),導致只憑常規XPS無(wú)法直接對埋層區域進(jìn)行無(wú)損深度分析。好在研究表明增加X(jué)射線(xiàn)的光子能量可以增加探測深度。對此,ULVAC-PHI推出了實(shí)驗室HAXPES設備,且可同時(shí)配備微聚焦單色化AlKα(1486....

  • 20247-17
    應用分享 | X射線(xiàn)反射率(X-ray reflectivity, XRR)

    XRR是什么?XRR是一種方便、快速的分析單層或多層薄膜和表面的方法,是一種納米尺度上的分析方法,同時(shí)可實(shí)現無(wú)損分析。例如,通過(guò)原子層沉積(ALD)技術(shù)沉積的薄膜可以用XRR表征薄膜的厚度、密度和界面的粗糙度,同樣也適用于其他方法制備的薄膜,如通過(guò)分子層沉積(MLD)沉積的有機/無(wú)機超晶格。與光學(xué)橢偏法不同,該方法不需要預先了解薄膜的光學(xué)性質(zhì),也不需要假設薄膜的光學(xué)性質(zhì)。然而,XRR不能提供有關(guān)材料晶體結構的信息,并且多層膜只能在有限的深度內表征。XRR簡(jiǎn)單原理介紹XRR分析...

  • 20247-10
    應用分享 | 原位冷凍TOF-SIMS對斑馬魚(yú)RPE組織的生物成像

    飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS),也叫靜態(tài)二次離子質(zhì)譜,是飛行時(shí)間和二次離子質(zhì)譜結合的一種新的表面分析技術(shù)。因其免標記、高靈敏、多組分檢測和高空間分辨成像等優(yōu)勢,為諸多生命科學(xué)問(wèn)題的研究提供了重要的技術(shù)支持。近年來(lái),TOF-SIMS在基礎細胞生物學(xué)、組織生理病理學(xué)、生物醫藥與臨床醫學(xué)等領(lǐng)域的研究中被廣泛應用。圖1.“水中小白鼠”斑馬魚(yú)(左);冷凍干燥的斑馬魚(yú)頭部截面的光學(xué)顯微鏡圖像(右)。小科普:斑馬魚(yú)(zebrafish)被稱(chēng)為“水中小白鼠”,是生物學(xué)家的理想實(shí)驗對...

  • 20247-10
    應用分享 | 鋰離子電池充放電下的原位XPS表征

    鋰離子電池(LIBs)和鋰金屬電池(LMB)都是多層的復雜體系,具有多種材料和界面,每個(gè)膜層和界面在性能和穩定性方面都起著(zhù)關(guān)鍵作用。調整這些材料的組成和形態(tài)就可以創(chuàng )建更穩定、性能更高的器件,但這些材料非常難以處理和表征。鋰金屬極其容易發(fā)生化學(xué)反應,形成枝晶,枝晶會(huì )刺穿隔膜造成短路,鋰金屬負極在充放電過(guò)程中也會(huì )明顯收縮,破壞保護的固體電解質(zhì)(SEI)膜,降低使用壽命和效率。SEI膜形成的LiF層可以對金屬鋰表面起到鈍化效果,減少鋰枝晶的形成,以提高電池的耐用性,因此開(kāi)發(fā)性能穩定...

  • 20247-10
    布魯克全新臺式D6 PHASER應用報告(五)—殘余應力分析

    殘余應力是材料在經(jīng)過(guò)焊接、鑄造、成型、機械加工或薄膜沉積等過(guò)程中殘留在材料中的內應力。殘余應力分析對于了解這些內應力如何影響部件的性能和使用壽命非常重要。此外,殘余應力分析還可以確定特定的材料特性和失效機制,從而用于構件和零件的設計。傳統上,殘余應力的測試只能在大型落地式衍射儀上進(jìn)行,臺式衍射儀通常用于簡(jiǎn)單的測試項目,比如物相分析。而D6PHASER是一款多功能臺式衍射儀,它不僅可以進(jìn)行常規的粉末衍射分析,還可以進(jìn)行薄膜測試(GID、XRR)、織構和應力測試、對分布函數測試(...

  • 20247-2
    應用分享 | PHI TOF-SIMS助力鋰電的綠色可持續發(fā)展戰略

    PHITOF-SIMSAssistingTheGreenandSustainableDevelopmentStrategyofLithiumBattery隨著(zhù)國內新能源汽車(chē)銷(xiāo)量高速增長(cháng),動(dòng)力電池裝機量也隨之迅速攀升。鑒于新能源汽車(chē)動(dòng)力電池的平均使用壽命約為6~8年,動(dòng)力電池在未來(lái)2-3年內將迎來(lái)大規模退役潮,因此動(dòng)力電池的回收已成為全國甚至全球相關(guān)產(chǎn)業(yè)可持續發(fā)展的關(guān)鍵。鋰的回收需要考慮諸多問(wèn)題,如回收效率、回收成本、環(huán)境污染以及方法的可行性等。傳統的廢鋰回收方法主要有火法冶金...

  • 20247-2
    應用分享 | 薄膜深度分析之角分辨XPS

    XPS作為一種表面靈敏的分析技術(shù),可以探測樣品表面10nm以?xún)鹊男畔?,而在材料分析中深度分析是獲取不同深度下組分和化學(xué)態(tài)信息的重要方法。在XPS深度分析中,有3個(gè)采樣深度值得關(guān)注:(1)0-10nm,這是基于常規AlKαX射線(xiàn)XPS的探測深度,對于超薄膜層結構的深度分析可以通過(guò)變角度XPS實(shí)現;(2)0-30nm,這是基于硬X射線(xiàn)XPS(HAXPES)的探測深度,可以通過(guò)切換X射線(xiàn)能量進(jìn)行無(wú)損深度分析;(3)0-1000nm,需要采用離子束剝離的破壞性深度剖析。氬離子刻蝕是常...

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